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视觉相机检测晶片盘上晶片的位置
固晶机的视觉系统决定了设备的取固晶速度及精度,在晶片盘放置位和固晶工作台正上方,安装视觉相机检测晶片盘上晶片的位置,以及检测工作台上基板位置和基板上固晶点位置,主要完成LED芯片的识别定位以及芯片缺陷检测功能。
VDS10-BQ0106-WP
视觉传感器 VDS10-BQ0106-WP
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检测晶片盘转台的转动状态
在晶片盘放置位上,底座转台侧面安装SL系列槽型光电,检测晶片盘转台的转动状态,精度达到0.01mm。当转盘完成设定范围内的动作后,槽型光电感应发送信号指示进行下一个动作。
SL-205PA-W
微槽型传感器 SL-205PA-W
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SL-205NA-W
微槽型传感器 SL-205NA-W
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SL-205PA-W
微槽型传感器 SL-205PA-W
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SL-205NA-W
微槽型传感器 SL-205NA-W
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漫反射光电检测晶片
使用漫反射式光电检测晶片,从而确定晶片的数量。
PTV-D30N
通用方型光电传感器 PTV-D30N
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PTV-D30P
通用方型光电传感器 PTV-D30P
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PTV-D70N
通用方型光电传感器 PTV-D70N
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PTV-D70P
通用方型光电传感器 PTV-D70P
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PTV-X09P
通用方型光电传感器 PTV-X09P
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PTV-TM20PO
通用方型光电传感器 PTV-TM20PO
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PTV-TM20NC
通用方型光电传感器 PTV-TM20NC
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PTV-TM20PC
通用方型光电传感器 PTV-TM20PC
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PTV-TM20AN
通用方型光电传感器 PTV-TM20AN
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PTV-TM20AP
通用方型光电传感器 PTV-TM20AP
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检测晶片盘有无
在晶片盘放置位上,侧面安装背景抑制型光电,检测晶片盘有无。由于晶片盘颜色较深,且有一定的光泽度,反光较强,可采用抗干扰性能强大的背景抑制型光电ESB-30N来进行检测,稳定性佳。
ESB-B30N
背景抑制型光电传感器 ESB-B30N
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ESB-B30P
背景抑制型光电传感器 ESB-B30P
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ESB-BS30N
背景抑制型光电传感器 ESB-BS30N
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ESB-BS30P
背景抑制型光电传感器 ESB-BS30P
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ESB-BS15P
背景抑制型光电传感器 ESB-BS15P
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ESB-BS15N
背景抑制型光电传感器 ESB-BS15N
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ESB-BL10P
背景抑制型光电传感器 ESB-BL10P
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ESB-BL10N
背景抑制型光电传感器 ESB-BL10N
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ESB-BY30N
背景抑制型光电传感器 ESB-BY30N
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ESB-BY30P
背景抑制型光电传感器 ESB-BY30P
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检测晶圆摆放位置准确
当晶圆堆叠产生偏移,遮挡了对射光纤的信号,传感器会发送信号报告提醒晶圆位置有偏差。
PT-F57UA
平板支架型光纤元件 PT-F57UA
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在锂电池生产中检测鼓包
在电池鼓包检验过程进行鼓包高度的检测,确保包装质量无漏气、瑕疵等不良品 流入下一环节。
MLD23-200NP
三角测量型传感器 MLD23-200NP
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MLD23-30NP
三角测量型传感器 MLD23-30NP
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MLD23-200N
三角测量型传感器 MLD23-200N
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MLD23-100NP
三角测量型传感器 MLD23-100NP
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MLD23-30N
三角测量型传感器 MLD23-30N
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MLD23-100N
三角测量型传感器 MLD23-100N
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检测包装内产品完整性
根据包装高度判断产品完整性。
MLD21-100A-485
三角测量型传感器 MLD21-100A-485
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MLD21-220A-485
三角测量型传感器 MLD21-220A-485
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MLD21-500A-485
三角测量型传感器 MLD21-500A-485
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测量晶圆厚度和平面度
晶圆检测精度要求非常高,可达到微米级别。
ACC-008L
彩色共焦传感器 ACC-008L
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检测芯片是否放平
对射光纤检测芯片在料盘内是否放好,避免芯片翘起导致的压伤,检测距离较大,可达到600mm。
PT-42
通用型光纤元件 PT-42
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